Главная Упрощенный режим Описание
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


Генеральный каталог- результаты поиска

Вид поиска
Генеральный каталог
Аналитическое описание статей
Краеведение ЦБС
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=ТЕОРЕТИЧЕСКАЯ МЕТРОЛОГИЯ<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 30.10/М 54
Заглавие : Метрология : учебник . -2-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : М.: Форум, 2011
Колич.характеристики :464 с
Серия: Высшее образование
ISBN (в пер.), Цена 978-5-91134-461-0: 473.88 р.
ГРНТИ : 90
ББК : 30.10
Предметные рубрики: Метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): теоретическая метрология--прикладная метрология--основы метрологии нанотехнологий--основы метрологии квантовых процессов--законодательная метрология
Экземпляры :ч/з(1)
Свободны : ч/з(1)
Найти похожие
2.

Вид документа : Однотомное издание
Шифр издания : 30.10/М 54
Заглавие : Метрология : учебник . -3-е изд., перераб. и доп.
Выходные данные : М.: Форум: ИНФРА-М, 2019
Колич.характеристики :522 с
Серия: Высшее образование - Бакалавриат
ISBN (в пер.), Цена 978-5-00091-474-8: 1890.00 р.
ГРНТИ : 90.01
ББК : 30.10
Предметные рубрики: Метрология-- Теоретическая, прикладная, законодательная метрология
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): теоретическая метрология--прикладная метрология--основы метрологии нанотехнологий--основы метрологии квантовых процессов--законодательная метрология
Экземпляры :аб(1)
Свободны : аб(1)
Найти похожие
 
Стандартный
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)